渦流法適用于測量大多數(shù)陽極氧化覆蓋層的厚度。利用高頻交變電流在線圈中產生的電磁場，當測頭和覆蓋層接觸時，金屬的基體上會產生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小就可以導出覆蓋層的厚度;
磁性法適用于磁性金屬基體上的非磁性涂層的測量。當測頭和覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬的基體構成一閉合的磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，會使磁路磁阻變化，通過測量其變化導出覆蓋層的厚度。
而膜厚計既有磁性測量原理，也有渦流測量原理。磁性測量用于檢測磁性金屬基材上的非磁性涂層厚度，渦流測量用于檢測非磁性基體上的非導電涂層厚度。
KETT膜厚計使用注意事項：
1、零點校準：因為之前的測量參數(shù)可能會對當前測量造成一定的影響，所以在每次使用膜厚計之前需要進行光學校準。零點校準可以消 除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結果的誤差，使測量結果更加精 確。
2、適宜的基體厚度：在使用膜厚計對物體進行測量時應選擇合適厚度的基體，否則會極大程度的影響儀器的測量精度，造成數(shù)據(jù)結果不準確，影響測量過程的正常進行。
3、物體表面粗糙程度：對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起探頭每次測試點不一樣，導致測試數(shù)據(jù)不穩(wěn)定。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑，以保證測量結果的精 確性。
膜厚計使用范圍廣，測量迅速，因而被人們廣泛使用。相信通過以上介紹的膜厚計的使用方法以及在使用過程中的注意事項，一定能夠幫助我們更好的使用膜厚計，提高工作效率。
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